应力、光照、电场、温度等各种物理场是有效调控器件性能的重要途径和方法，多种调控作用相耦合，又涌现出了许多全新的关联机制。出于多种限域效应，低维纳米材料对各种物理场更为敏感，多场耦合对研究和测试低维半导体器件在纳尺度下的服役行为意义重大。为更好地测试调控和研究低维材料在多种场和耦合场下的性能表现与服役行为，主要开展如下几方面研究：

      一、 设计、搭建纳尺度多场耦合测试系统：设计规划系统中各物理场发生装置的空间排布，解决信号采集干扰问题、光学部件在超高真空、极低温环境的兼容性问题;

      二、 完善器件纳尺度服役行为研究方法：以建立完善的新材料与器件性能检测、服役行为研究方法与评估标准为目标，建立数据驱动的材料服役行为、性能优化与器件设计研究标准;

      三、 解决系统测试高精度需求和破坏性问题：尝试将扫描电子显微镜(SEM)与扫描探针显微镜（SPM）结合，发展超高精度的原位表征技术，建立新型二维材料与器件的高分辨表征和低破坏性的性能测试平台，推动新型低维半导体器件的发展；