器件测试平台

半导体元件电学性能测试系统

发布时间:2025-08-05

图片7.png

仪器名称:半导体元件电学性能测试系统   仪器型号:B1500+CX3324


产地:                马来西亚                        生产厂家:是德科技


购买日期:         2023/6/1                       分类标签:电学测试


联系人:              于慧慧                          联系电话:010-62334725


放置地点:       鼎新楼A座521


主要规格及技术指标:

1.中功率源测量单元(≥4 个):电压≥±100V、电流≥±100mA,电流 / 电压测量分辨率分别≤10fA、≤0.5μV,最小时间采样率≤100μs,支持准静态电容

测量、2/4 线连接及四象限操作。

2. 高功率源测量单元(≥2 个):电压≥±200V、电流≥±1A,电流 / 电压测量分辨率分别≤10fA、≤2μV,最小时间采样率≤100μs,支持准静态电容测量、

2/4 线连接。

3. C-V 多频率电容单元(≥1 个):支持 AC 阻抗测量(C-V、C-f、C-t),频率 1KHz~5MHz 且分辨率≤1mHz,交流信号电压 10mVrms~250mVrms,

偏置电压≥±25V(可扩展至 ±100V)。

4. 前置放大单元(≥2 个):电流测量分辨率≤0.1fA,可简便切换 I-V 与 C-V 测量且无需换线。

5. 脉冲发生器单元(≥1 个):含≥2 个高速脉冲电压源通道,支持 ±40V、800mA 峰值及两 / 三电平脉冲,ALWG 模式 10ns 可编程分辨率,可与源测量

单元切换。

6. 精密电流波形分析仪(≥1 台):≥4 通道,电流测量带宽≥200MHz、采样率≥1GSa/s,高分辨率模式硬件垂直分辨率≥16 位,噪声 < 90μV,含数据记

录仪功能。

7.精密电流波形分析仪配套:2 个电流传感器(150pA~20mA、带宽≥200MHz)、2 个电压探头(带宽≥500MHz)等必要附件。

主要功能及特色:

能够执行从基础电流-电压(IV)和电容-电压(CV)表征到最佳快速脉冲IV测试的全方位测量。