半导体元件电学性能测试系统
发布时间:2025-08-05仪器名称:半导体元件电学性能测试系统 仪器型号:B1500+CX3324
产地: 马来西亚 生产厂家:是德科技
购买日期: 2023/6/1 分类标签:电学测试
联系人: 于慧慧 联系电话:010-62334725
放置地点: 鼎新楼A座521
主要规格及技术指标:
1.中功率源测量单元(≥4 个):电压≥±100V、电流≥±100mA,电流 / 电压测量分辨率分别≤10fA、≤0.5μV,最小时间采样率≤100μs,支持准静态电容
测量、2/4 线连接及四象限操作。
2. 高功率源测量单元(≥2 个):电压≥±200V、电流≥±1A,电流 / 电压测量分辨率分别≤10fA、≤2μV,最小时间采样率≤100μs,支持准静态电容测量、
2/4 线连接。
3. C-V 多频率电容单元(≥1 个):支持 AC 阻抗测量(C-V、C-f、C-t),频率 1KHz~5MHz 且分辨率≤1mHz,交流信号电压 10mVrms~250mVrms,
偏置电压≥±25V(可扩展至 ±100V)。
4. 前置放大单元(≥2 个):电流测量分辨率≤0.1fA,可简便切换 I-V 与 C-V 测量且无需换线。
5. 脉冲发生器单元(≥1 个):含≥2 个高速脉冲电压源通道,支持 ±40V、800mA 峰值及两 / 三电平脉冲,ALWG 模式 10ns 可编程分辨率,可与源测量
单元切换。
6. 精密电流波形分析仪(≥1 台):≥4 通道,电流测量带宽≥200MHz、采样率≥1GSa/s,高分辨率模式硬件垂直分辨率≥16 位,噪声 < 90μV,含数据记
录仪功能。
7.精密电流波形分析仪配套:2 个电流传感器(150pA~20mA、带宽≥200MHz)、2 个电压探头(带宽≥500MHz)等必要附件。
主要功能及特色:
能够执行从基础电流-电压(IV)和电容-电压(CV)表征到最佳快速脉冲IV测试的全方位测量。